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全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）S4 TStar

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產(chǎn)品簡介

全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）S4 TStar

詳細(xì)介紹

簡化了TXRF方法，適合7天24小時(shí)日常運(yùn)行，同時(shí)保證數(shù)據(jù)質(zhì)量，非常適合用于超微量元素檢測，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

不僅顯著改善了檢測限值，而且設(shè)有自動(dòng)質(zhì)控流程，提供了有用的例行程序，并具備的通用性，適用于多種類型的樣品和載體。

S4 TStar — TXRF的明星

數(shù)十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測限值低于PPb 量級(jí)。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成為原子吸收光譜法（AAS）以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）或質(zhì)譜法（ICP-MS）的理想的替代性方法。現(xiàn)在，S4 TStar 在臺(tái)式TXRF 光譜儀的性能、自控和質(zhì)量方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。

優(yōu)異的樣品通用性

S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。它的樣品通用性優(yōu)于ICP。

ICP 只能分析溶解的液體樣品。

30 毫米石英片：對(duì)液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析

2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究

顯微鏡載玻片：臨床和生物學(xué)樣品，直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片

54 毫米以下的矩形載體：膜片、濾片、納米顆粒層

任何定制的反射介質(zhì)

行業(yè)應(yīng)用：

藥品

檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm

食品

糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品安全標(biāo)準(zhǔn)：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。

環(huán)境監(jiān)測

環(huán)境監(jiān)測：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)
元素范圍： Mo靶激發(fā) Al to U (除Nb to Ru之間的元素)
W靶激發(fā) K to U含量范圍： ppb to 99%
檢出限：< 10 pg Ni (Mo靶激發(fā))
< 2 pg Ni (Mo靶激發(fā)高效模式)
樣品類型：液體、懸浮液、粉末、顆粒、金屬、薄膜、組織、濾膜、擦拭物