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薄膜測量儀ST4080-OSP

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更新時間：2025-04-06 12:15:33瀏覽次數(shù)：19次

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產(chǎn)品簡介

簡單介紹：薄膜測量儀ST4080-OSP主要特點：非接觸式，非破壞式可測量亞微米光斑實樣監(jiān)控易操作界面

詳細介紹

詳情介紹：

薄膜測量儀ST4080-OSP

儀器簡介：

標準模式
工業(yè)規(guī)格
自動調(diào)焦
防震臺
自動的X-Y平臺

技術(shù)參數(shù)：

活動面積：864 x 648? / 86.4 x 64.8?
波長范圍：420 ~640 nm
厚度測量范圍：350?~3?
*小光斑尺寸：1.35?, 0.135?
透鏡旋轉(zhuǎn)臺：5X,50X
可測量層：1
樣品臺尺寸：200mmX200mm
Z軸可重復性：± 1?
Z軸自動調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)：
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s

主要特點：

非接觸式，非破壞式
可測量亞微米光斑
實樣監(jiān)控
易操作界面

應(yīng)用領(lǐng)域：

專用于測量PCB/PWB板的銅箔表面的OSP厚度。

HS13B-400/31 M10 JSV-1000 JSV-200H HE50 HS13B-200/31 HE20 HE10 HE5.0 HE3.0 HD13B-1500/30 HE2.0 HD13B-1000/31 HE1.0 HD13B-600/31 HE0.5 HE0.2 HE0.1 HF-100 HF-50 HF-20 HF-10 HF-05 HF-02 HD13B-400/31 HF-01 HD13B-200/31 HD12-1000/31 HD12.HD14-600/31 HD12.HD14-400/31 HD12.HD14-200/31 HS11-600/38 HS11-400/38 HS11-200/38 HD11-600/38 ZPS-500KN HD11-400/38 ZPS-200KN HD11-200/38 ZPS-100KN JR20-160 JR20-63 JR20-25A ZPS-50KN JR20-10-16A ZPS-30KN ZPS-20KN ZPS-10KN ZPS-5000N LR1-D803 LR1-D633