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微焦斑XRF光譜儀X-Strata 系列

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  熒光鍍層測(cè)厚儀

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沈陽(yáng)華儀時(shí)代科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品

詳細(xì)介紹

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從¹³Al 到⁹²U 的固體或液體樣品。

X-Strata920 可被配置為三個(gè)不同的樣品臺(tái)配置，以應(yīng)對(duì)各種不同的樣本形狀和尺寸。標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)可以快速定位小或薄部件。加深臺(tái)基座有一個(gè)可移動(dòng)托盤(pán)，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。電動(dòng)X-Y臺(tái)可自動(dòng)分析多個(gè)樣品或一個(gè)樣品的多個(gè)位置。

l正比計(jì)數(shù)器系統(tǒng)

l元素范圍：鈦- 鈾

l樣品艙設(shè)計(jì)：開(kāi)槽

lXY 軸樣品臺(tái)選擇：固定臺(tái)、加深臺(tái)、自動(dòng)臺(tái)

l樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米

l數(shù)量準(zhǔn)直器：6

l濾波器：3

l小的準(zhǔn)直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

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