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集成礦物分析儀 TIMA-X FEG（LM）

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廈門質(zhì)匯科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

背散射電子圖像分辨率：2.0nm @ 15keV
二次電子圖象分辨率：1.2nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數(shù)：1~1,000,000 x

儀器簡(jiǎn)介：
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。TESCAN的技術(shù)是基于一個(gè)集成的EDX系統(tǒng)，能以非常快的速度執(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測(cè)、工藝優(yōu)化、修復(fù)技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實(shí)現(xiàn)了以的采集速度自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。

最重要的特性：
通過高水平的SEM和EDX硬件集成實(shí)現(xiàn)了快速、自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集；
基于MIRA SEM平臺(tái)；
新設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)集成了BSE/EDX校正標(biāo)準(zhǔn)和法拉第杯；
根據(jù)客戶的需求更改樣品的尺寸；
最多集成4個(gè)EDX探測(cè)器確保系統(tǒng)的性能；
新的Peltier冷卻型EDX探測(cè)器確保熱穩(wěn)定性；
改進(jìn)的方法使數(shù)據(jù)分析既快又可靠；
根據(jù)樣品的每個(gè)部分可調(diào)整掃描和EDX分析的時(shí)間；
離線數(shù)據(jù)處理；
各種各樣的數(shù)據(jù)分析模塊；
可自定義的分類規(guī)則；
可定制的解決方案。

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術(shù)是基于一個(gè)集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn)，低真空模式為選配。
大樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號(hào)校準(zhǔn)）與錳、銅、石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。

配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測(cè)量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇