YTB-A039 X射線熒光光譜儀
產品特點：
高分辨率探測器：美國原裝電制冷Si-PIN探測器，配套原裝數字式多道脈沖幅度分析器，檢測結果和分析速度遠比國內采用線性放電法（模擬）多道分析器精準和快速。
精密穩(wěn)定的高壓電源：采用工業(yè)級X射線熒光分析的精密高壓電源，為X射線光管提供長時間的穩(wěn)定高壓。
低功率X射線光管：采用W/Rh靶X射線管，*高速風扇制冷，設計壽命5萬小時。
高像素攝像頭：內置高清攝像頭以及微動樣品移動裝置，方便對樣品掃描區(qū)域的實時準確定位和觀察。
*的X射線防護體系：采用電源開關鎖、精密樣品蓋開合檢測等安全裝置*防止X射線的泄漏，確保操作人員的安全。
超安全樣品腔：精密科學計算儀器外殼厚度，選擇重量與安全*平衡點，既保證儀器使用的安全，也有效減輕儀器重量。
采用新型濾光片：有效的降低X射線熒光本底，提高檢測靈敏度。*光學準直器，光束zui小直徑達0.025mm，集中X射線光束，增強熒光強度，提高對微量元素的檢測以及超薄鍍層的分析。
*的光譜分析方法：緊跟zui前沿的X射線光譜分析方法，科學的對光譜進行元素定性、定量分析。由于采用了*復雜的計算、校正算法，zui大程度上減少了定量分析需要的標樣，這在同行中處于地位。通過改進硬件，Pb、Cd等的檢測靈敏度提高2倍。
無標樣分析：真正意義上實現無任何標樣的含量、鍍層分析。對于含量分析，高含量元素相對誤差范圍可控制在1%以內；對于鍍層分析，厚度相對誤差范圍可控制在10%以內。
**鍍層厚度分析：選用的功能模塊實現對鍍層厚度的分析，使用戶無需添加額外硬件即可進行鍍層厚度分析。
高分辨率探測器：美國原裝電制冷Si-PIN探測器，配套原裝數字式多道脈沖幅度分析器，檢測結果和分析速度遠比國內采用線性放電法（模擬）多道分析器精準和快速。
精密穩(wěn)定的高壓電源：采用工業(yè)級X射線熒光分析的精密高壓電源，為X射線光管提供長時間的穩(wěn)定高壓。
低功率X射線光管：采用W/Rh靶X射線管，*高速風扇制冷，設計壽命5萬小時。
高像素攝像頭：內置高清攝像頭以及微動樣品移動裝置，方便對樣品掃描區(qū)域的實時準確定位和觀察。
*的X射線防護體系：采用電源開關鎖、精密樣品蓋開合檢測等安全裝置*防止X射線的泄漏，確保操作人員的安全。
超安全樣品腔：精密科學計算儀器外殼厚度，選擇重量與安全*平衡點，既保證儀器使用的安全，也有效減輕儀器重量。
采用新型濾光片：有效的降低X射線熒光本底，提高檢測靈敏度。*光學準直器，光束zui小直徑達0.025mm，集中X射線光束，增強熒光強度，提高對微量元素的檢測以及超薄鍍層的分析。
*的光譜分析方法：緊跟zui前沿的X射線光譜分析方法，科學的對光譜進行元素定性、定量分析。由于采用了*復雜的計算、校正算法，zui大程度上減少了定量分析需要的標樣，這在同行中處于地位。通過改進硬件，Pb、Cd等的檢測靈敏度提高2倍。
無標樣分析：真正意義上實現無任何標樣的含量、鍍層分析。對于含量分析，高含量元素相對誤差范圍可控制在1%以內；對于鍍層分析，厚度相對誤差范圍可控制在10%以內。
**鍍層厚度分析：選用的功能模塊實現對鍍層厚度的分析，使用戶無需添加額外硬件即可進行鍍層厚度分析。
| 技術指標 | 基本參數 | ||
| 探 測 器 | 145eV FWHM @ 5.9keV | 外型尺寸 | 650 X 520 X 475 mm |
| 穩(wěn) 定 度 | 小于 0.05% | 樣品腔 | 18 X 490 X 320 mm |
| 測量對象 | 固體、液體、粉末 | 輸入電壓 | AC 220V /50HZ |
| 測量時間 | 60-300s | 功 耗 | 260W |
| 元素范圍 | 硫（S）-鈾（U） | 重 量 | 48Kg |
| 檢測下限 | 2ppm | 工作溫度 | 20-30℃ |
| 含量范圍 | 2ppm-99.99% | 工作濕度 | 40-70% |
| X光管壓 | 1-50KV | | |
| X光管流 | 1-1000 A | | |
| **測鍍層 | 0-40 m | | |
